測厚儀的測試原理和使用注意事項
更新時間：2023-02-16 點擊次數(shù)：743次
測厚儀適用于各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片、硬片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準確測量，分辨率達0.1um，廣泛應(yīng)用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機構(gòu)等單位。
測試原理
測厚儀采用接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測厚儀測量頭自動降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值。
測厚儀的使用注意事項：
1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
2、在測量的時候要注意，側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
3、在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
5、測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
6、測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
7、在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
8、在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
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